Theo một
nghiên cứu của các nhà khoa học thuộc Trường đại học Yale (Mỹ)
công bố ngày 9/4, những người đi chụp
X quang răng thường xuyên có
nguy cơ bị u
não cao hơn so với những người khác.
Nghiên cứu này được thực hiện với 1.433 bệnh nhân bị u màng não trong độ
tuổi từ 20 đến 79, cho thấy những người đi chụp X quang răng hàng năm có nguy cơ
bị mắc dạng u này cao gấp từ 1,4 đến 3 lần so với những người không đi chụp X
quang răng và tỷ lệ bị mắc dạng u trên phụ thuộc vào kiểu chụp X quang răng.
U màng não là một
khối u hình thành trong lớp màng bao bọc não và tủy
sống.
Đây là những khối u lành và chúng ít khi phát triển nhanh, tuy nhiên,
những khối u này có thể làm mất các chức năng hoạt động của con người và có nguy
cơ gây chết người trong một số trường hợp.
Theo bà Elizabeth Claus, trưởng nhóm nghiên cứu trên, những người đi khám
răng hiện bị
phơi nhiễm những
bức xạ không mạnh như trước đây.
“Nghiên cứu nói
trên đã tạo cho chúng tôi cơ hội nâng cao cảnh giác về việc sử dụng các tia X
quang để chụp răng”./.